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光學(xué)掃描三坐標(biāo)的閉線掃描方式說明
點(diǎn)擊次數(shù):2174 更新時間:2020-03-26 打印本頁面 返回
   光學(xué)掃描三坐標(biāo)又稱3D掃描儀,可以完成大型工件的掃描測量工作,逆向分析。可以實(shí)現(xiàn)無損檢測,特別是對于大型工件的測量有著獨(dú)到的優(yōu)勢,在飛機(jī)、汽車、船舶等行業(yè)有著廣泛的應(yīng)用。
  光學(xué)掃描三坐標(biāo)的閉線掃描方式允許掃描內(nèi)表面或外表面,它只需“起點(diǎn)”和“方向點(diǎn)”兩個值(PC DMIS程序?qū)⑵瘘c(diǎn)也作為終點(diǎn)):
  1.數(shù)據(jù)輸入操作
  雙擊邊界點(diǎn)“1”,在編輯對話框中輸入位置;雙擊方向點(diǎn)“D”,輸入坐標(biāo)值;選擇掃描類型(“線性”或“變量”),輸入步長,定義觸測類型(“矢量”、“表面”或“邊緣”);雙擊“初始矢量”,輸入第“1”點(diǎn)的矢量,檢查截面矢量;鍵入其它選項(xiàng)后,點(diǎn)擊“創(chuàng)建”。
  也可使用光學(xué)掃描三坐標(biāo)操作盤觸測被測工件表面的頭一個測點(diǎn),然后觸測方向點(diǎn),PC DMIS程序?qū)褱y量值自動放入對話框,并自動計(jì)算初始矢量。選擇掃描控制方式、測點(diǎn)類型及其它選項(xiàng)后,點(diǎn)擊“創(chuàng)建”。
  2.有CAD模型的閉線掃描
  如被測工件有CAD模型,測量前確認(rèn)“閉線掃描”;首先點(diǎn)擊表面起始點(diǎn),在CAD模型上生成符號“1”(點(diǎn)擊時表面和邊界點(diǎn)被加亮,以便選擇正確的表面);然后點(diǎn)擊掃描方向點(diǎn);PC DMIS將在對話框中給出所選位置點(diǎn)相應(yīng)的坐標(biāo)及矢量;選擇掃描控制方式、步長及其它選項(xiàng)后,點(diǎn)擊“創(chuàng)建”。
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